SN74BCT8374ANTG4
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SN74BCT8374ANTG4

制造商:
描述:
IC SCAN TEST DEVICE 8BIT 24-PDIP
封装:
包装:
Tube
RoHS:
YES

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规格
零件状态
Obsolete
安装类型
Through Hole
工作温度
0°C ~ 70°C
封装 / 外壳
24-DIP (0.300", 7.62mm)
供应商器件封装
24-PDIP
位数
8
电源电压
4.5V ~ 5.5V
逻辑类型
Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
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2851807446
HLX-Herman